- TEL「半導体ができるまで」から項目を引用:
- シリコン基板
- 酸化膜・窒化膜形成
- ゲート,ソース,ドレイン作成
- フォロレジスト塗布
- 露光
- 現像
- エッチング
- レジスト剥離・洗浄
- 層間絶縁膜 (酸化膜) 埋め込み・平坦化処理
- ゲート絶縁膜形成/ゲート電極層形成
- ソース・ドレイン領域のパターン形成
- イオン注入/アニール
- 多層配線
- 層間コンタクト線作成
- 層間絶縁膜形成/平坦化処理
- コンタクト線のパターン形成
- 金属部埋め込み・研磨
- 層内配線
- 層間絶縁膜形成/平坦化処理
- 配線のパターン形成
- 金属部埋め込み・研磨
(1, 2 の繰り返し)
- プローブ検査
- ダイシング
- ダイボンディング
- ワイヤーボンディング
- モールド
- semi「イラストでわかる半導体製造工程」から項目を引用:
- マスク製造工程
- 回路・パターン設計
- フォトマスク作成
- ウェーハ製造工程
- シリコンインゴット切断
- ウェーハの研磨
- 前工程
- ウェーハ表面の酸化
- 薄膜形成
- フォトレジスト塗布
- 露光・現像
- エッチング
- レジスト剥離・洗浄
- イオン注入
- 平坦化
- 電極形成
- ウェーハ検査
- 後工程
- ダイシング
- ワイヤーボンディング
- モールディング
- 最終検査
- 日立ハイテク「半導体の部屋」から項目を引用:
- 半導体とは
- 半導体の性質
- 暮らしの中の半導体
- 半導体材料 シリコンについて
- 半導体の歴史
- IC(集積回路)について
- 最近注目の半導体
- 半導体の製造
- 半導体製造工程
- エッチング装置とは
- 半導体の計測と検査
- 正確度と精度
- CD-SEM(測長SEM)とは
- ウェーハ欠陥検査装置とは
- レビューSEMとは
- 電子顕微鏡
- 製品サービス
- 半導体用語集
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